EDX-6000X熒光光譜儀
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臺式X熒光光譜儀非真空能量色散X熒光光譜儀：
EDX-6000X熒光光譜儀融合經驗系數(shù)法、基本參數(shù)法等分析方法，測試數(shù)據(jù)的準確性能得到全面保證。
EDX-6000X熒光光譜儀基本參數(shù)法（FP法）：儀器根據(jù)實際檢測物質，通過對多種物理量建模計算確定參數(shù)。對標準樣品要求不高，計算較復雜，適合缺少對應標樣的物質檢測。
EDX-6000X熒光光譜儀經驗系數(shù)法：儀器依據(jù)對標準樣品的測定，確定影響系數(shù)。對標準樣品要求高，需和待測樣品類型相近，校正模型簡單。
軟件功能
元素含量分析范圍為2 PPm到99.99%
采用內標校正，提高非定性式樣測量精度
用戶自定義多曲線多光譜擬和分析方法
全自動定量分析報告簡捷準確
自適應初試化校正
光譜的自動獲取和顯示。
具有自動檢測儀器工作狀態(tài)的功能。
自動判別樣品及自動分析。提供擴展接口，進一步作其他元素分析，從鈣到鈾元素。
硬件
美國進口探測器，高速脈沖高度分析系統(tǒng)
美國SPELLMAN高壓發(fā)生器
美國進口前置放大器，與美國進口探測器兼容性好
美國進口主放大器，與美國進口探測器兼容性好
美國進口AD轉換模塊，與美國進口探測器兼容性好
尺寸＆重量
電源：550220V±10％ 50Hz
環(huán)境溫度：10℃-28℃
環(huán)境濕度：≤70 ％RH(25℃室溫）
產品優(yōu)勢
臺式X熒光光譜儀非真空能量色散X熒光光譜儀：
無損檢測
在無標準樣品時亦可準確分析
測量時間比化學方法短，不需要輔助材料
計算機進行數(shù)據(jù)處理，分析快速準確
高分辨率圖形即時顯示，由不同色塊加以判斷區(qū)分
硅半導體探測器
元素含量分析范圍為2 PPm到99.99%
采用BG內標校正，提高非定性式樣測量精度
全自動定量分析報告簡捷準確
自適應初試化校正
光譜的自動獲取和顯示
具有自動檢測儀器工作狀態(tài)的功能
自動判別樣品及自動分析
技術參數(shù)：
